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產(chǎn)品型號:S920
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
所在地:上海市
更新時間:2024-12-12
瀏覽次數(shù):3174
產(chǎn)品簡介:
品牌 | 其他品牌 | 重復(fù)性 | 小于1% |
---|---|---|---|
價格區(qū)間 | 10萬-30萬 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,制藥,綜合 | 測量角度 | 11°≤X≤175° |
光源波長 | 532nm/671nm 固體激光器 |
動態(tài)光納米粒度儀性能特點
1、高效的光路系統(tǒng):采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路,充分滿足空間相干性的要求,極大地提高了散射光信號的信噪比。
2、高靈敏度光子探測器:采用計數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管,對光子信號具有*的靈敏度和信噪比; 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進行計數(shù),瞬間捕捉光子脈沖的變化。
3、大動態(tài)范圍高速光子相關(guān)器:采用高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計光子相關(guān)器,有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾,實現(xiàn)了大的動態(tài)范圍,并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性。
4、高精度溫控系統(tǒng):基于半導(dǎo)體制冷技術(shù),采用自適應(yīng)PID控制算法,使樣品池溫度控制精度達±0.1℃。
5、數(shù)據(jù)篩選功能:引入分位數(shù)檢測異常值的方法,鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù),并剔除異常值,提高粒度測量結(jié)果的準確度。
6、優(yōu)化的反演算法:采用擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數(shù),基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布,測量結(jié)果的準確度和重復(fù)性都優(yōu)于1%。
zeta電位分析儀測量
Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)zeta電位愈高,顆粒間的相互排斥力越大,膠體體系愈穩(wěn)定, 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。
原理
帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運動,單位電場強度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時,會帶著緊密吸附層和部分擴散層一起移動,與液體之間形成滑動面,滑動面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程,通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。
zeta電位分析儀性能特點
1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路,替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路,使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾,有效地提高了信噪比和抗干擾能力。
2.先對散射光信號進行頻譜預(yù)分析,獲取需要細化分析的頻譜范圍,然后在窄帶范圍內(nèi)進行高分辨率的頻譜細化分析,從而獲得準確的散射光頻移。
3.基于雙電層理論模型,求解顆粒的雙電層厚度,獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值,再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達式,進而有效提高了zeta電位的計算精度。
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